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光焱科技光譜響應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)IPCE量子效率測(cè)試

光焱科技光譜響應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)IPCE量子效率測(cè)試

簡(jiǎn)要描述:光焱科技光譜響應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)IPCE量子效率測(cè)試QE-R系統(tǒng)可以測(cè)試晶硅電池(Si),非晶硅電池(a-Si),多結(jié)電池(Tandem),染料敏化電池(DSSC),有機(jī)電池(OPV),銅銦鎵硒(CIGS),聚光電池(HCPV)等各種太陽(yáng)能電池。

產(chǎn)品型號(hào): QE-R

所屬分類(lèi):光焱量子效率測(cè)量系統(tǒng)

更新時(shí)間:2023-08-03

廠商性質(zhì):經(jīng)銷(xiāo)商

詳情介紹
品牌其他品牌應(yīng)用領(lǐng)域醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產(chǎn)業(yè),能源,電子
測(cè)量模式交流Dark?box600mm?x?600mm?x?600mm
 

QE-R光譜響應(yīng)測(cè)試系統(tǒng) 產(chǎn)品特色:

  • 特制高效率集光系統(tǒng)設(shè)計(jì),高達(dá)70 %以上的集光,有效提高訊號(hào)強(qiáng)度,使量測(cè)更快更穩(wěn)定。

  • 配備兩部鎖相放大器,同時(shí)達(dá)到即時(shí)監(jiān)控光強(qiáng)與訊號(hào)量測(cè),提供較準(zhǔn)確的量測(cè)結(jié)果。

  • 整合電腦自動(dòng)控制訊號(hào)切換器,可降低維修及耗材成本。

  • 采用原裝多光柵單光儀,低雜散光 < 10-5,穩(wěn)定度高及掃描快速。

  • 光源穩(wěn)定,可長(zhǎng)時(shí)間持續(xù)測(cè)試,縮短實(shí)驗(yàn)校正時(shí)間。

  • 數(shù)據(jù)重復(fù)性高達(dá)99.5 %。

  • 適用于量測(cè)各種材料之太陽(yáng)能電池。


※以QE-R量測(cè)三節(jié)電池的EQE


※以QE-R比較不同結(jié)構(gòu)之HIT電池

QE-R光譜響應(yīng)測(cè)試系統(tǒng) 產(chǎn)品特色:

  • 特制高效率集光系統(tǒng)設(shè)計(jì),高達(dá)70 %以上的集光,有效提高訊號(hào)強(qiáng)度,使量測(cè)更快更穩(wěn)定。

  • 配備兩部鎖相放大器,同時(shí)達(dá)到即時(shí)監(jiān)控光強(qiáng)與訊號(hào)量測(cè),提供較準(zhǔn)確的量測(cè)結(jié)果。

  • 整合電腦自動(dòng)控制訊號(hào)切換器,可降低維修及耗材成本。

  • 采用原裝多光柵單光儀,低雜散光 < 10-5,穩(wěn)定度高及掃描快速。

  • 光源穩(wěn)定,可長(zhǎng)時(shí)間持續(xù)測(cè)試,縮短實(shí)驗(yàn)校正時(shí)間。

  • 數(shù)據(jù)重復(fù)性高達(dá)99.5 %。

  • 適用于量測(cè)各種材料之太陽(yáng)能電池。

 


※以QE-R量測(cè)三節(jié)電池的EQE


※以QE-R比較不同結(jié)構(gòu)之HIT電池

 

※以QE-R量測(cè)硅基三節(jié)電池結(jié)構(gòu)的EQE※QE-R量測(cè)太陽(yáng)能電池的差異性小

 

QE-R光譜響應(yīng)測(cè)試系統(tǒng) 系統(tǒng)說(shuō)明:

  • QE-R標(biāo)準(zhǔn)系統(tǒng)即具備IEC 60904-1、60904-7、60904-8要求之所有功能:

    • 依據(jù)IEC 60904-8規(guī)范設(shè)計(jì),可校正、量測(cè)光譜響應(yīng) / 量子效率。

    • 采用德國(guó)Fraunhofer ISE同等級(jí)之白光偏光源,光源強(qiáng)度可達(dá)0~3個(gè)太陽(yáng) 光常數(shù)。

    • 具備自動(dòng)電壓偏壓功能,將電池穩(wěn)定的維持在短路條件,在測(cè)試量測(cè)光譜響應(yīng) / 量子效率時(shí)無(wú)須再外接一個(gè)電源供應(yīng)器,省去接線錯(cuò)誤的麻煩。

    • 量測(cè)太陽(yáng)能電池材料能隙,提供客戶(hù)重要材料參數(shù)。

    • 光譜不合致度因子(Spectral Mismatch Factor)計(jì)算,提供用戶(hù)較重要的修正參數(shù)。

    • 全光譜短路電流密度計(jì)算(auto interlace演算),可提供較準(zhǔn)確的計(jì)算結(jié)果。

    • 短路電流密度光譜,提供客戶(hù)作為材料分析、制程改進(jìn)之關(guān)鍵資訊。

    • 內(nèi)部量子效率計(jì)算功能,客戶(hù)可自行輸入反射率,計(jì)算內(nèi)部量子效率。

  • 高效率集光系統(tǒng),集光效果 > 70 %,較傳統(tǒng)透鏡集光系統(tǒng)高于一個(gè)數(shù)量級(jí)以上的光強(qiáng)度,提供系統(tǒng)*訊噪比與量測(cè)的準(zhǔn)確性。

  • Czerny-Turner多光柵單光儀,低雜散光 < 10-5,高穩(wěn)定度、掃描快速,光譜范圍可達(dá)200 nm ~2000 nm。

  • 雙光束光路設(shè)計(jì):

    • 同NIM、NIST、PTB國(guó)際一級(jí)校驗(yàn)單位相同光路設(shè)計(jì)。

    • 量測(cè)樣品光電流訊號(hào)同時(shí)監(jiān)控光強(qiáng)變化,確保量測(cè)的高度準(zhǔn)確性。

  • 訊號(hào)多工器,整合電腦自動(dòng)控制訊號(hào)切換器,避免拉拔訊號(hào)線接頭所造成之損壞,降低維修及耗材成本。

  • 優(yōu)異的信噪比,可達(dá)100 dB是整體系統(tǒng)優(yōu)化的結(jié)果,客戶(hù)無(wú)須再閱讀一般鎖相放大器厚重的操作手冊(cè),無(wú)須自行優(yōu)化量測(cè)時(shí)的設(shè)定參數(shù),避免人為操作的困擾與錯(cuò)誤。

  • 直流量測(cè)模式,客戶(hù)無(wú)須再拆裝任何硬體設(shè)備,直接將多功電表,模組化整合到系統(tǒng)內(nèi)部,大幅簡(jiǎn)化硬體空間與拆裝的不便性。

  • 高均勻度參考偵測(cè)器(Reference detector)。

QE-R光譜響應(yīng)測(cè)試系統(tǒng) 系?規(guī)格

項(xiàng)目
規(guī)格
儀器大小
  1. 600(W) x 600(D) x 610(H)mm集成系統(tǒng),不含作業(yè)計(jì)算機(jī)

重量
  1. 主體:80kg

量測(cè)模式
  1. 交流量測(cè)模式

量測(cè)波長(zhǎng)
  1. 300nm~1100nm ,可擴(kuò)展到2000nm

光班大小
  1. 2 x 2 m2或1 x 4 m2(可客制)

整合型光源系統(tǒng)
  1. 150WXQ光源系統(tǒng)(或75W Xe燈光源),光源不穩(wěn)定度<0.1%,可提供300nm~2000nm連續(xù)光源

  2. 高效率橢圓集光鏡系統(tǒng),具備三軸調(diào)整旋鈕

  3. 燈源定時(shí)器

單光儀
  1. Czerny-Turner多光柵單光儀

  2. 0.1nm波長(zhǎng)解析,掃描范圍 200nm~2000nm

自動(dòng)濾鏡轉(zhuǎn)輪
  1. 可裝載6片雜散光濾鏡

  2. 可手動(dòng)/計(jì)算機(jī)控制,具LED顯示

斬波器
  1. 4Hz~500Hz,計(jì)算機(jī)頻率控制

雙鎖相放大器
  1. 兩部DSP dual-phase鎖相放大器整合于系統(tǒng)內(nèi),可同時(shí)擷取雙光束測(cè)試訊號(hào)

校正探測(cè)器
  1. Si偵測(cè)器,10x10m2

  2. 有效面積內(nèi)不均勻度<0.5%

  3. 偵測(cè)能力200nm~1100nm

  4. 附300nm~1100nm光譜回應(yīng)追溯校驗(yàn)報(bào)告

訊號(hào)切換多任務(wù)器
  1. 4對(duì)1計(jì)算機(jī)控制訊號(hào)切換多任務(wù)器

計(jì)算機(jī)系統(tǒng)
  1. PC,LCD,Windows操作系統(tǒng)(需自備計(jì)算機(jī)桌)

軟件
  1. EQE/SR量測(cè)控制軟件

  2. 光強(qiáng)度校正

  3. 多圖儲(chǔ)存與編輯

  4. 能系分析功能

  5. 自動(dòng)切換參考偵測(cè)器與待測(cè)電池之訊號(hào)

  6. 樣品訊號(hào)狀態(tài)顯示

  7. 內(nèi)部量子效率計(jì)算(客戶(hù)輸入反射率)

  8. 全光譜短路電路密度計(jì)算(自動(dòng)交錯(cuò)算法)

  9. 短路電流密度光譜

  10. 光譜不含致度因子計(jì)算軟件(自動(dòng)交錯(cuò)算法)

電力需求
  1. 可選110V或220V AC單相,<1KVA

操作環(huán)境
  1. 溫度:20 ℃~40 ℃,濕度:20%~80%

光強(qiáng)監(jiān)控模塊
  1. 300nm~1100nm,雙光束量測(cè)

偏壓電壓
  1. 0V~±5V

QE-R光譜響應(yīng)測(cè)試系統(tǒng) 選購(gòu)功能

項(xiàng)目
規(guī)格
雙光源系統(tǒng)
  1. Xe + QTH 雙光源系統(tǒng),含兩組高效率橢圓集光燈系統(tǒng),計(jì)算機(jī)控制電源切換

  2. 700 (W) x 700 (D) x800(H) 集成外箱(選購(gòu)雙光源后的材積)

偏置光源
  1. 150 W 白光偏光光源

全自動(dòng)多接面量測(cè)套件
  1. 可量測(cè):

  2. aa-si; au-si double-junction;

  3. aau-si; auu-si; aug-si triple-junction;

  4. III-V double-junction and triple-junction;

  5. OPV double-junction

內(nèi)部量子效率量測(cè)模塊
  1. 2"積分球

  2. 硅偵測(cè)器,波長(zhǎng)范圍 300 nm~ 1100 nm

  3. 積分球切換機(jī)構(gòu)

  4. 反射率 / IQE 量測(cè)軟件

穿透率量測(cè)模塊
  1. 穿透率量測(cè)偵測(cè)器,si 300 nm ~ 1100 nm

  2. 穿透率量測(cè)軟件

  3. 量測(cè)樣品臺(tái),樣品大小 max. 20 x 20 x 3mm3?(min. 10 x 10 x 1 mm3)

長(zhǎng)波長(zhǎng)擴(kuò)充套件
  1. Ge 鍺參考偵測(cè)器,900 nm ~ 1800 nm 含校正報(bào)告

  2. InGaAs 參考偵測(cè)器,1000 nm ~ 2000 nm 含校正報(bào)告

UPS
  1. Online UPS > 1.5 KVA

Mapping
  1. XY自動(dòng)平臺(tái),200 nm x 200 nm行程,2.5 um resolution

  2. Mapping量測(cè)軟件

  3. 任意波長(zhǎng)QE掃描等功能

  4. 自動(dòng)光強(qiáng)校正 / 樣品量測(cè) / 位置調(diào)整

其他
  1. 直流量測(cè)模式、客制化樣品臺(tái)、數(shù)字影像顯微鏡下針監(jiān)控系統(tǒng)、反射率內(nèi)部量子效率量測(cè)、吸收光譜量測(cè)(需選購(gòu)反射率及穿透率套件)、系統(tǒng)使用效益統(tǒng)計(jì)分析、制成改進(jìn)分析功能、供電系統(tǒng)分析、光束引致電流空間掃描3D掃描量測(cè)與分析、多點(diǎn)EQE自動(dòng)量測(cè)




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