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光焱量子科技發(fā)光光器件配光曲線量測系統(tǒng)

光焱量子科技發(fā)光光器件配光曲線量測系統(tǒng)

簡要描述:光焱量子科技發(fā)光光器件配光曲線量測系統(tǒng)配光曲線量測系統(tǒng),可測試 LED 與發(fā)光器件之配光曲線。

產(chǎn)品型號: DIST-Z

所屬分類:光焱量子效率測量系統(tǒng)

更新時間:2023-08-03

廠商性質(zhì):經(jīng)銷商

詳情介紹
品牌其他品牌應(yīng)用領(lǐng)域醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產(chǎn)業(yè),能源,電子

DIST-Z LED 發(fā)光光器件配光曲線量測系統(tǒng)


ENLI DIST-Z LED 發(fā)光光器件配光曲線量測系統(tǒng) 產(chǎn)品敘述


配光曲線量測系統(tǒng),可測試 LED 與發(fā)光器件之配光曲線。

配光曲線為一個發(fā)光源在各方向之光強度分布的曲線或形狀,大部分 LED 光源,其發(fā)光角度和光強分布為 110 度至 120 度的郎伯分布,然而依據(jù)后端的應(yīng)用需求,如做為燈具使用,需要規(guī)劃照明的空間均勻度,如做為顯示器也需要不同的配光特性。
圖: 多信道光譜儀測試系統(tǒng)
多信道光譜儀測試系統(tǒng)

ENLI DIST-Z LED 發(fā)光光器件配光曲線量測系統(tǒng) 規(guī)格


型號項目規(guī)格
1DIS-Z
配光曲線測試系統(tǒng)
- 測量波長范圍:350 - 1000 nm
- 可客制化多種 EL 器件測試夾具
- 手動多點切換器
- 支持多種源表 (選配)
1-1HS3011-ESP
高靈敏光譜偵測整合模塊
光譜儀
- 波長范圍: 350 - 1000 nm
- 波長分辨率: 0.35 - 1 nm (依光柵與狹縫而定)
高靈敏感測探頭
1-2三軸樣品臺- 手動XYZ三軸調(diào)整
- 行程 ± 15 mm
1-3?自動旋轉(zhuǎn)載臺- 光強分布測量模塊
- 旋轉(zhuǎn)樣品臺
- 旋轉(zhuǎn)角度-80到+80度
- 軟件控制功能
1-4??訂制化EL測試夾具- 訂制化背探針夾具盒
1-5測量軟件- 配光曲線量測:不同角度之光強分布
- 相對輻射強度:w/m2 (需搭配HS3011-ESP)
- 相對亮度學參數(shù)(需搭配HS3011-ESP)
- 所有CIE相關(guān)參數(shù) (需搭配HS3011-ESP)
- 適用于 Keithley 24XX /Agilent 29XX / Keithley 26XX系列源表
1-6?量測暗箱- 尺寸: 540 x 340 x 310 mm
1-7高準度對位雷射
選配型號選配項目規(guī)格
2電源電表- 1 臺B2901 / B2911源表
- 或 1 臺 K2400 源表




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